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一种基体效应校正方法基本原理及在×射线荧光熔片分析中的应用-辽宁化工2025年07期

一种基体效应校正方法基本原理及在×射线荧光熔片分析中的应用

作者:童晓民 董再蒸 字体:      

中图分类号:0657.34 文献标志码:A 文章编号:1004-0935(2025)07-01170-03

内标法是分析化学中广泛应用的测定手段。它操作简便,可以有效改善基体和状态效应影响、补偿仪器测量信号漂移影响,从而提高被测物质测定(试读)...

辽宁化工

2025年第07期