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多注意力机制结合的绝缘子缺陷检测模型-现代信息科技2025年09期

多注意力机制结合的绝缘子缺陷检测模型

作者:曾维国 刘晓群 郝娟 字体:      

中图分类号:TP391.4 文献标识码:A 文章编号:2096-4706(2025)09-0037-06

Abstract: In the current field of defect detection for tower insulators, there is a problem that the insulator recognition is (试读)...

现代信息科技

2025年第09期