• 简体   /   繁体
深空环境下电子器件可靠性研究进展-系统工程与电子技术2025年04期

深空环境下电子器件可靠性研究进展

作者:关旗龙 杭春进 李胜利 唐晓玖 于丹 丁颖 字体:      

中图分类号:TN609 文献标志码:A DOI:10.12305/j.issn.1001-506X.2025.04.15

Abstract: Deep space environments (cryogenic environment,high temperature and intense radiation,etc.) seriouslyafect thep(试读)...

系统工程与电子技术

2025年第04期